| 标题 |
Current State and Prospects for Improving Metrological Support in the Field of Measuring the Thickness of Coatings Using the X-ray Fluorescence Method 使用X射线荧光法测量涂层厚度领域中改进计量支持的现状和前景
相关领域
X射线荧光
计量学
荧光
电流(流体)
领域(数学)
国家(计算机科学)
材料科学
纳米技术
工程物理
分析化学(期刊)
光学
计算机科学
物理
工程类
化学
电气工程
环境化学
数学
算法
纯数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Measurement Standards Reference Materials 作者:M. V. Shipitsyna; A. E. Tyurnina 出版日期:2025-01-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|