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 Hall and Seebeck measurement of ap-nlayer stack: Determining InN bulk hole transport properties in the presence of a strong surface electron accumulation layer 相关领域
塞贝克系数
电阻率和电导率
霍尔效应
类型（生物学）
兴奋剂
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材料科学
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物理
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期刊：Physical Review B 作者：Oliver Bierwagen; Soojeong Choi; James S. Speck 出版日期：2012-04-09 |
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