Evolution of atomic structure and electronic transport properties in n-type Bi2Te3 films via Bi2 planar defects

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标题	Evolution of atomic structure and electronic transport properties in n-type Bi2Te3 films via Bi2 planar defects
网址	https://doi.org/10.1063/5.0045518
DOI	10.1063/5.0045518 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Min Zhang; Wei Liu; Cheng Zhang; Sen Xie; Fuqiang Hua; et al 出版日期：2021
求助人	nigger 在 2026-05-29 18:05:53 发布，悬赏 10 积分
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