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 Enhancement of Defect Characterization With AC Magnetic Flux Leakage: Far-Side Defect Shape Estimation and Sensor Lift-Off Compensation 利用交流漏磁增强缺陷表征：远侧缺陷形状估计和传感器剥离补偿
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期刊：IEEE Transactions on Magnetics 作者：Samaneh Hosseingholizadeh; Tobin Filleter; Anthony N. Sinclair 出版日期：2022-03-10 |
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