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 New insights on strained SiGe channels pFET NBTI reliability 相关领域
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期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Cheikh Ndiaye; A. Biavaix; M. Aiabi; R. Berthelon; V. Huard; et al 出版日期：2017-04-01 |
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