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 Electrical and physical failure analysis techniques for oxide aperture delineation in high-power oxide-confined VCSEL arrays 高功率氧化物约束VCSEL阵列中氧化物孔径描绘的电学和物理失效分析技术
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期刊：High-power lasers and applications 作者：Xiaoyan Wang; Jefferson Abrenica 出版日期：2021-04-14 |
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