| 标题 |
[高分]
Key Recovery Algorithm for Randomly-Decayed AES Key Bits 相关领域
德拉姆
钥匙(锁)
计算机科学
动态随机存取存储器
嵌入式系统
密钥空间
随机性
密码学
算法
计算机硬件
计算机安全
半导体存储器
数学
统计
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of the Korea Institute of Information Security and Cryptology 作者:Yoo-Jin Baek 出版日期:2016 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|