| 标题 |
In situ transmission electron microscopy observation of N ion radiation damage in the GaN material at high temperature |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Yuanyuan Xue; Lili Ding; Xueling Yang; Wei Chen; Zijing Huang; et al 出版日期:2025 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)