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  A new extraction method of GaN switch-HEMT small-signal model with capacitance scanning algorithm 一种新的GaN开关HEMT小信号模型提取方法电容扫描算法
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期刊：IEICE Electronics Express 作者：Jiashun Lang; Beibei Lv; Di Zhang; Yü Liu; Pengfei Zhang; et al 出版日期：2024-07-23 |
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