| 标题 |
Sub-pixel deep learning ghost imaging for defect inspection in large areas using blurred illumination |
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| DOI |
10.1364/ao.557787
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期刊:Applied Optics 作者:Shoma Kataoka; Yasuhiro Mizutani; Tsutomu Uenohara; Erick Ipus; Osamu Matoba; et al 出版日期:2025-04-10 |
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(2025-6-4)