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  Comprehensive Short Circuit Behavior and Failure Analysis of 1.2kV SiC MOSFETs Across Multiple Vendors and Generations 跨多个供应商和多代1.2 kV SiC MOSFET的全面短路行为和失效分析
相关领域
MOSFET
宽禁带半导体
碳化硅
材料科学
光电子学
环境科学
电子工程
电气工程
电压
工程类
晶体管
复合材料
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| 其它 |
期刊：IEEE Access 作者：Shahid Makhdoom; Na Ren; Ce Wang; Chaobiao Lin; Yiding Wu; et al 出版日期：2024-01-01 |
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