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[高分]
  Microstructural Characterization and Residual Stress Distribution of Chemical Vapor Reaction SiC Conversion Layers on the "Continuous" and "Discontinuous" Graphite 相关领域
材料科学
成核
石墨
复合材料
残余应力
晶界
多孔性
压力（语言学）
应力松弛
微观结构
热力学
蠕动
哲学
物理
语言学
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期刊：Nippon Seramikkusu Kyōkai gakujutsu rombunshi 作者：Young‐Hoon Yun; Sung‐Churl Choi 出版日期：2000-01-01 |
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