Development of a Thickness Meter for Conductive Thin Films Using Four-Point Probe Method

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标题	Development of a Thickness Meter for Conductive Thin Films Using Four-Point Probe Method
网址	https://doi.org/10.1007/s42835-021-00725-5
DOI	10.1007/s42835-021-00725-5 doi
其它	期刊：Journal of Electrical Engineering & Technology 作者：Jeon-Hong Kang; Sang-Hwa Lee; Hyun Ruh; Kwang-Min Yu 出版日期：2021
求助人	heyyyy 在 2026-04-29 19:09:56 发布自浙江，悬赏 10 积分
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