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[高分]
 Generation of POD curves in the absence of service-induced cracked components – an experimental approach 相关领域
无损检测
可靠性（半导体）
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高温合金
结构工程
材料科学
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功率（物理）
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物理
放射科
量子力学
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期刊：Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring 作者：Vamsi Krishna Rentala; Phani Mylavarapu; Jai Prakash Gautam; V. R. Prasath Kumar 出版日期：2019-01-01 |
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