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 A quantitative model for the bipolar amplification effect: A new method to determine semiconductor/oxide interface state densities 双极放大效应的定量模型：测定半导体/氧化物界面态密度的新方法
相关领域
材料科学
半导体
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：James P. Ashton; Stephen J. Moxim; Ashton D. Purcell; P. M. Lenahan; Jason T. Ryan 出版日期：2021-10-06 |
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