标题 |
Photo-induced corrosion or protection: Determining the charge transfer in the semiconductor-metal heterojunction
光致腐蚀或保护:半导体——金属异质结中电荷转移的测定
相关领域
腐蚀
材料科学
半导体
非阻塞I/O
冶金
碳钢
金属
合金
异质结
电解质
光电子学
化学
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生物化学
物理化学
催化作用
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其它 |
期刊:Journal of alloys and compounds 作者:Yong Xu; Weiwei Zhang; Yiyong Yang; Weijie Pang 出版日期:2020-03-01 |
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