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 Cryogenic Measurement of CMOS Readout Circuit Integrated with Silicon-based Blocked-Impurity-Band Detector 集成硅基阻带探测器的CMOS读出电路的低温测量
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期刊：2022 7th International Conference on Integrated Circuits and Microsystems (ICICM) 作者：Xin Ge; Dong Chen; Xingyu Cui; Hongbo Ma; Ying Li; et al 出版日期：2022-10-28 |
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