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Correlation of lithographic performance of the electron beam resists SML and ZEP with their chemical structure 相关领域
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:Anushka Gangnaik; Yordan M. Georgiev; Justin D. Holmes 出版日期:2015-07-01 |
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