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 Stress Characterization of Crystal Junction of a Mosaic Diamond Substrate (an Approximately 4 cm 2 ) Using Near‐Field Optical Raman Microscopy 使用近场光学拉曼显微镜对镶嵌金刚石衬底（约4 cm 2）的晶体结进行应力表征
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期刊：Journal of Raman Spectroscopy 作者：Yoshihiko Nakata 出版日期：2025-12-01 |
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