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 Innovative Recovery Strategy for MFIS-FeFETs at Optimal Timing With Robust Endurance: Fast-Unipolar Pulsing (100 ns), Nearly Zero Memory Window Loss (0.02%), and Self-Tracking Circuit Design MFIS-FeFETs在最佳时间的创新恢复策略，具有强大的耐久性：快速单极脉冲（100 ns）、几乎为零的存储器窗口损耗（0.02%）和自跟踪电路设计
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Cheng-Hung Wu; Jay Liu; Xun-Ting Zheng; Han-Fu Chuang; Yi-Ming Tseng; et al 出版日期：2024-03-26 |
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