Direct Assessment of Defective Regions in Monolayer MoS2 Field-Effect Transistors through In Situ Scanning Probe Microscopy Measurements

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标题	Direct Assessment of Defective Regions in Monolayer MoS2 Field-Effect Transistors through In Situ Scanning Probe Microscopy Measurements 通过原位扫描探针显微镜测量直接评估单层MoS2场效应晶体管中的缺陷区域相关领域材料科学单层原位显微镜纳米技术场效应晶体管扫描探针显微镜晶体管光电子学光学化学物理电气工程工程类电压有机化学
网址	https://doi.org/10.1021/acsnano.4c03080
DOI	10.1021/acsnano.4c03080 doi
其它	期刊：ACS nano 作者：Albert Minj; Vivek Mootheri; Shaibal Banerjee; Ankit Nalin Mehta; Jill Serron; et al 出版日期：2024-04-01
求助人	木木在 2024-04-08 21:40:24 发布自天津，悬赏 10 积分
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