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 Diagnosis of Shielded Cable Faults via Regression-Based Reflectometry 基于回归的反射法诊断屏蔽电缆故障
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Gu-Young Kwon; Chun-Kwon Lee; Yong–June Shin 出版日期：2018-06-01 |
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