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 In Situ Radiation Hardness Study of Amorphous Zn–In–Sn–O Thin-Film Transistors with Structural Plasticity and Defect Tolerance 具有结构塑性和缺陷容限的非晶Zn-In-Sn-O薄膜晶体管原位辐射硬度研究
相关领域
材料科学
无定形固体
钝化
辐照
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薄膜晶体管
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光电子学
晶体管
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Dongil Ho; Sun-Woo Choi; Hyun‐Woo Kang; Byungkyu Park; Minh Nhut Le; et al 出版日期：2023-07-05 |
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