| 标题 |
Optical characterization of sputtered amorphous aluminum nitride thin films by spectroscopic ellipsometry |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Non-Crystalline Solids 作者:Jebreel M. Khoshman; Martin E. Kordesch 出版日期:2005-09-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)