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 Bimodal Atomic Force Microscopy with a Torsional Eigenmode for Highly Accurate Imaging of Grain Orientation in Organic Thin Films 相关领域
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期刊：Nano Letters 作者：Rodrigo Arilla; Esther Barrena; Carmen Ocal; Daniel Martín-Jiménez 出版日期：2025-02-23 |
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