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Characterization of Flux Trapping in and Fabrication of Large-Scale Superconductor Circuits Using AC-Biased Shift Registers With 108 500 Josephson Junctions |
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期刊:IEEE Transactions on Applied Superconductivity 作者:Evan Golden; Neel A. Parmar; В.К. Семенов; Sergey K. Tolpygo 出版日期:2025-01-22 |
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(2025-6-4)