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Single Pulse Charge Pumping Technique Improvement for Interface-States Profiling in the Channel of MOSFET Devices MOSFET器件沟道界面态分布的单脉冲电荷泵技术改进
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Dhiaelhak Messaoud; Boualem Djezzar; Mohamed Boubaaya; Abdelmadjid Benabdelmoumene; Boumediene Zatout; et al 出版日期:2023-09-15 |
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