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[求助补充材料]
 DAE-SWnet: Unsupervised internal defect segmentation through infrared thermography with scarce samples 相关领域
热成像
红外线的
分割
人工智能
模式识别（心理学）
法律工程学
材料科学
计算机科学
工程类
光学
物理
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期刊：Journal of Manufacturing Systems 作者：Hao Shi; Yifeng Pan; Ruoxiang Gao; Zhengchuan Guo; Chengqian Zhang; et al 出版日期：2025-08-02 |
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