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 TCAD simulations and accurate extraction of reliability-aware statistical compact models 可靠性感知统计紧凑模型的TCAD模拟与精确提取
相关领域
晶体管
CMOS芯片
MOSFET
可靠性（半导体）
计算机科学
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期刊：Journal of Computational Electronics 作者：Jie Ding; A. Asenov 出版日期：2019-12-04 |
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