Single event burnout of SiC MOSFET induced by atmospheric neutrons

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标题	Single event burnout of SiC MOSFET induced by atmospheric neutrons 相关领域材料科学碳化硅中子光电子学薄脆饼电场 MOSFET 散裂中子源散裂电压核物理学复合材料电气工程晶体管物理量子力学工程类
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.114997
DOI	10.1016/j.microrel.2023.114997 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Li-Hua Mo; Quanzhi Yu; Zhiliang Hu; Bin Zhou; Tiancheng Yi; et al 出版日期：2023-05-11
求助人	御景风在 2025-10-01 20:47:14 发布自北京，悬赏 10 积分
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