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Electron-Microscopy Studies of the Structure of Thin Epitaxial Ge2Sb2Te5 Layers Grown on Si(111) Substrates 相关领域
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电子显微镜
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期刊:Semiconductors 作者:Yu. S. Zaytseva; Н. И. Боргардт; A. S. Prikhodko; Eugenio Zallo; Raffaella Calarco 出版日期:2021-12-01 |
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