标题 |
![]() Si、SiGe和硅化物CMOS兼容薄膜的热电输运性质
相关领域
材料科学
热电效应
薄板电阻
硅化物
光电子学
塞贝克系数
CMOS芯片
硅
薄膜
兴奋剂
电阻率和电导率
热电材料
半导体
温度系数
电气工程
纳米技术
复合材料
热导率
热力学
物理
工程类
图层(电子)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Review of Scientific Instruments 作者:Caroline Schwinge; Raik Hoffmann; Johannes Hertel; Marcus Wislicenus; Lukas Gerlich; et al 出版日期:2023-10-01 |
求助人 |
斯文败类
在
2025-08-29 16:26:20 发布,悬赏 10 积分
|
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|