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 Systematic characterization for RF small-signal parameter extraction of 28 nm FDSOI MOSFETs up to 110 GHz 高达110 GHz的28 nm FDSOI MOSFET射频小信号参数提取的系统表征
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期刊：Microelectronics Journal 作者：Xuejing Yang; Seungkyeong Lee; Songcheol Hong; Kyounghoon Yang 出版日期：2023-06-02 |
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