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[高分]
 New linewidth enhancement determination method in semiconductor lasers based on spectrum analysis above and below threshold 基于阈值上下光谱分析的半导体激光器线宽增强确定新方法
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期刊：Electronics Letters 作者：Zeno Toffano; A. Destrez; C. Birocheau; L. Hassine 出版日期：1992-01-02 |
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