标题 |
Atomic‐Scale Manipulation and In Situ Characterization with Scanning Tunneling Microscopy
原子尺度操作和扫描隧道显微镜原位表征
相关领域
表征(材料科学)
介观物理学
纳米技术
扫描隧道显微镜
原子单位
材料科学
平版印刷术
纳米线
扫描探针显微镜
量子隧道
量子传感器
量子
量子点
制作
比例(比率)
量子计算机
量子模拟器
光电子学
物理
量子力学
医学
替代医学
病理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Advanced functional materials 作者:Wonhee Ko; Chuanxu Ma; Giang D. Nguyen; Marek Kolmer; An‐Ping Li 出版日期:2019-10-08 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|