A Test Chip for Characterization of the Series Association of MOSFETs

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标题	A Test Chip for Characterization of the Series Association of MOSFETs 一种用于表征MOSFET串联关联的测试芯片相关领域 NMOS逻辑 PMOS逻辑晶体管阈值电压 CMOS芯片炸薯条 MOSFET 电子工程材料科学电气工程电压光电子学工程类
网址	https://doi.org/10.1109/tvlsi.2019.2908338
DOI	10.1109/tvlsi.2019.2908338 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 作者：Rafael Sanchotene Silva; Lucas Pereira Luiz; M.C. Schneider; Carlos Galup‐Montoro 出版日期：2019-04-16
求助人	小五在 2025-04-02 18:18:55 发布自福建，悬赏 10 积分
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