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Defect Engineering in van der Waals Layer‐Structured Bi 2 Te 3 ‐Based Materials |
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期刊:cMat 作者:Si‐Qi Liu; Wei‐Di Liu; Wanyu Lyu; Han Gao; Dmitri V. Golberg; et al 出版日期:2025-06-01 |
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(2025-6-4)