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 An Empirical Model of the Silicon Bandgap Dependence on the External Pressure 硅带隙与外压关系的经验模型
相关领域
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期刊：Visnyk NTUU KPI Seriia - Radiotekhnika Radioaparatobuduvannia 作者：Maksym Zylevich; P. V. Kucherniuk 出版日期：2021-06-30 |
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langyu
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