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![]() γ射线、电子和中子辐照下AIIIBV/Ge三结太阳电池的退化
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:M.V. Ryabtseva; A. S. Petrov; G. S. Voevodkin; K. I. Tapero; N. T. Vagapova; et al 出版日期:2021-08-31 |
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