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 Identifying and Correcting Scan Noise and Drift in the Scanning Transmission Electron Microscope 扫描透射电子显微镜中扫描噪声和漂移的识别与校正
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Lewys Jones; Peter D. Nellist 出版日期：2013-05-14 |
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