标题 |
Thicker Sections (300-500 nm) Observed in the Conventional TEM May Reveal Extended Structures Not Recognized in Ultrathin Sections
在常规TEM中观察到的较厚切片(300-500 nm)可能揭示超薄切片中未识别的延伸结构
相关领域
材料科学
内容(测量理论)
动作(物理)
纳米技术
物理
数学
量子力学
数学分析
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Douglas R. Keene; Sara F. Tufa 出版日期:2022-08-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|