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 Investigating Neutron-Induced Single Event Transient Characteristics by TCAD Simulations in 65 nm Technology and Below 相关领域
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期刊：2019 3rd International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices (ICREED) 作者：Chao Peng; Zhifeng Lei; Zhangang Zhang; Yunfei En; Yun Huang 出版日期：2020-09-25 |
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