| 标题 |
Thermal Effect on Sinusoidal Vibration Fatigue of Bond Wire in IGBT Gate Loop 热效应对IGBT栅极回路键合线正弦振动疲劳的影响
相关领域
绝缘栅双极晶体管
振动
引线键合
循环(图论)
材料科学
热的
门驱动器
电气工程
结构工程
声学
物理
工程类
电压
数学
气象学
组合数学
炸薯条
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 作者:Cao Zhan; Lingyu Zhu; Francesco Iannuzzo; Yaxin Zhang; Jinyu Li; et al 出版日期:2024-08-06 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|