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 A Path Dependence Identification Method for Power MOSFETs Degradation Due to Bias Temperature Instability 偏压温度不稳定性导致功率MOSFET退化的路径依赖识别方法
相关领域
降级（电信）
负偏压温度不稳定性
MOSFET
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Xuerong Ye; Qisen Sun; Ruyue Zhang; Yifan Hu; Cen Chen; et al 出版日期：2024-06-14 |
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