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 Challenges and opportunity in performance, variability and reliability in sub-45nm CMOS technologies 亚45nm CMOS技术在性能、可变性和可靠性方面的挑战和机遇
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：F. Arnaud; L. Pinzelli; C. Gallon; M. Rafik; P. Mora; et al 出版日期：2011-08-06 |
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