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 Determination of the indirect bandgap of lattice-matched SiGeSn on Ge 锗上晶格匹配SiGeSn间接带隙的测定
相关领域
材料科学
带隙
直接和间接带隙
格子（音乐）
凝聚态物理
光电子学
物理
声学
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Daniel Schwarz; E. Kasper; Florian Bärwolf; Ioan Costina; Michael Oehme 出版日期：2024-05-27 |
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yuan
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