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Threshold-switching characteristics of a nanothin-NbO2-layer-based Pt/NbO2/Pt stack for use in cross-point-type resistive memories |
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期刊:Microelectronic Engineering 作者:Seonghyun Kim; Jubong Park; Jiyong Woo; Chunhum Cho; Wootae Lee; et al 出版日期:2013-03-07 |
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