| 标题 |
Surface characterization of CeO2/SiO2 and V2O5/CeO2/SiO2 catalysts by Raman, XPS and other techniques
相关领域
X射线光电子能谱
表征（材料科学）
拉曼光谱
材料科学
催化作用
曲面（拓扑）
化学工程
纳米技术
化学
光学
物理
工程类
有机化学
几何学
数学
|
| 网址 |
AI链接 hal.science |
| DOI |
暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
|
| 其它 |
期刊：HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe) 作者：C.V. Reddy; Azmat Ali Khan; Y. Yamada; Tetsuhiko Kobayashi; S. Loridant; et al 出版日期：2002-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
看不了一点文献
GingerF
张欢馨
大力的灵雁
Criminology34
YOLO
学术文献互助
缓慢怜菡
无极微光
小小牛马
Baimei
愔愔
OsamaKareem
Willa
贪玩的秋柔
干净的琦
iNk
pluto
活泼的机器猫
Zsilu
皖公网安备34019202002308
