标题 |
Deep convolutional neural networks to restore single-shot electron microscopy images
基于深度卷积神经网络的单次电镜图像恢复
相关领域
卷积神经网络
计算机科学
失真(音乐)
显微镜
扫描透射电子显微镜
人工智能
电子断层摄影术
图像质量
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常规透射电子显微镜
光学
可视化
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其它 |
期刊:Cornell University - arXiv 作者:I. Lobato; T. Friedrich; S. Van Aert 出版日期:2023-03-29 |
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