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  Test Structures for the Characterization of the Gate Resistance in 16 nm FinFET RF Transistors 用于表征16 nm FinFET RF晶体管栅极电阻的测试结构
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期刊：Electronics 作者：Mario Lauritano; Peter Baumgartner; Ahmet Çağrı Ulusoy 出版日期：2023-07-09 |
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